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SPC統計製程管理
從即時量測數據收集、管制圖監控到製程能力分析,MiDFUN SPC 提供工廠品質管理 e 化的完整解決方案。符合 ISO/IATF 16949 規範,並持續跟進 AIAG-VDA SPC Manual 最新草案與正式版發布進度。
AIAG-VDA SPC Yellow Volume 草案(Stakeholder Review)已公開! Red Volume 正式版預計 2026 年 Q3 發行。MiDFUN 已完成草案內容研讀與準備,將依正式版內容同步校正系統功能,包含 Cwk 製程能力指標、管制圖標準化流程,以及 5 條明列判異規則加上客戶/組織可自訂規則等更新。
深入了解:篇一:AIAG-VDA SPC 2026 新版重點解析 | 篇二:SPC 管制圖完整指南 | 篇三:先進管制圖與 Pearson 非常態分析
產品影片:儀器機台自動化連線
核心功能
全廠品質管理即時監控
MiDFUN SPC 系統提供從進料檢驗(IQC)、製程檢驗(PQC/IPQC)到出貨檢驗(OQC)的全方位品質管理架構。透過即時數據收集與管制圖監控,工廠管理者可在第一時間掌握製程異常,啟動 OCAP/CLCA 異常處理程序,有效降低不良率與客訴風險。
- SPC 全廠品質管理即時管制
- OCAP、CLCA 異常處理程序自動觸發
- 整合製程 8D、CAR 矯正行動管理
- QIR 品質智慧報表自動發送
- ERP、MES 跨系統整合
- SQM、CP 內部系統 QRP 串流銜接


儀器自動化連線系統
超越群倫的儀器自動化連線技術,支援各式量測儀器直接傳輸數據至 SPC 系統,大幅提升檢驗效率並確保數據正確性。無論是三次元量測儀(CMM)、輪廓儀、硬度計、膜厚計或光學檢測設備,MiDFUN 均能提供穩定可靠的自動化連線方案。
豐富的自動化傳輸技術
- RS-232 / RS-485 串列通訊
- TCP/IP 網路傳輸
- USB / HID 裝置連線
- OPC-UA 工業標準通訊
- CSV / Excel 檔案匯入
適合各特性檢驗站
- 尺寸量測(CMM、卡尺、分厘卡)
- 硬度測試(洛氏、維氏、蕭氏)
- 表面粗糙度量測
- 膜厚 / 鍍層厚度檢測
- 光學 / AOI 自動檢測


完整統計分析功能
涵蓋 SPC 完整統計分析功能與公式參數,與國際品質管理系統同步。系統內建 X̄-R、X̄-S、I-MR 等計量型管制圖,以及 p、np、c、u 等計數型管制圖,並提供 Cpk、Ppk、Cwk(2026 新增)等製程能力指標計算。
符合 ISO/IATF 16949 現行規範,並持續跟進 AIAG & VDA 最新版 SPC/MSA 手冊標準。針對 2026 Yellow Volume 草案提到的 Cwk 短期能力指標、標準化判異規則等內容,MiDFUN 將以 Red Volume 正式版為準同步校正支援。
- 8 種管制圖(X̄-R、X̄-S、I-MR、Median-R、p、np、c、u)
- 製程能力指標:Cp、Cpk、Pp、Ppk、Cwk(2026 新增)
- 5 條明列 AIAG-VDA 判異規則 + 可自訂規則自動檢測
- 直方圖、常態機率圖、散佈圖、柏拉圖等統計工具
- CUSUM、EWMA 先進管制圖
- 多層別分析(依機台、班別、模穴等維度拆分)


LIMS-COA 檢驗流程管理與報表產出
整合 LIMS(實驗室資訊管理系統)流程,從檢驗排程、數據登錄到 COA(Certificate of Analysis)報表自動產出,一站式管理檢驗作業。支援客製化報表格式,可依客戶需求自動生成品質證明文件。
產業解決方案
從 IQC → PQC → OQC 的全方位品質管理,針對不同行業的專業需求,MiDFUN 提供量身打造的 SPC 解決方案。
少量多樣生產
針對多品種少量的生產模式,提供 Worse Chart 合併管制圖、短期製程能力分析(Cwk)等專業工具,確保在有限樣本下仍能有效監控製程品質。
半導體產業
WORSE CHART 與 Robust σ 半導體工業 4.0 自動警示機制。支援 Wafer Map 分析、Lot-to-Lot 管控,滿足半導體封裝測試的高精度品質要求。
組裝業
提供組裝製程最佳解決方案,支援多站別串聯管控、扭力 / 拉力 / 壓力等組裝特性即時監測,確保組裝品質穩定。
化學行業
專為化學行業特性管理設計,支援連續型製程監控、批次品質追溯、配方參數管理,滿足 cGMP 與 ISO 規範要求。
模具模穴分析
獨家模具模穴品質分析功能,可依模穴別進行分層管制圖分析,快速定位問題模穴,有效提升模具壽命與產品良率。
封裝測試
滿足半導體封裝測試需求,支援 Wire Bond、Die Attach 等關鍵製程參數管控,整合 Tester 數據自動收集。




技術規格
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 支援標準 | ISO 9001、IATF 16949、AIAG-VDA SPC Yellow Volume 2026 草案 / Red Volume 正式版發布後同步校正、cGMP |
| 管制圖類型 | X̄-R、X̄-S、I-MR、Median-R、p、np、c、u、CUSUM、EWMA、Pre-Control |
| 製程能力指標 | Cp、Cpk、Pp、Ppk、Cwk、Cpm |
| 判異規則 | AIAG-VDA 5 條明列規則 + 可自訂 |
| 儀器介面 | RS-232、RS-485、TCP/IP、USB、OPC-UA、CSV/Excel |
| 系統整合 | ERP(SAP/Oracle)、MES、PLM、LIMS |
| 部署方式 | 本地部署(On-Premise)/ 私有雲 |
| 多語系 | 繁體中文、簡體中文、英文、日文 |
客戶信賴的永續服務承諾
專業服務能力
超過 20 年品質管理系統導入經驗,服務涵蓋半導體、汽車零組件、電子、化學、精密機械等產業,累計導入逾 500 家工廠。
系統整合技術
專業的 IT 團隊提供 ERP/MES/PLM 跨系統整合服務,確保品質數據在企業內部無縫流通,消除資訊孤島。
品質研討課程
定期舉辦 SPC、MSA、FMEA 等品質管理研討課程,協助客戶團隊提升專業能力,深化品質管理文化。
健全服務組織
台北、新竹、台中、台南四大據點,以及中國大陸昆山、東莞服務中心,提供即時在地化技術支援。


深入閱讀:SPC 2026 系列文章
篇一:AIAG-VDA SPC 2026 新版重點解析
Cpk/Ppk 定義變革、新增 Cwk 指標、六大核心變更完整解說。
篇二:SPC 管制圖完整指南
8 種管制圖操作要領 + 5 大統計工具應用,含 21 張動態圖解。
篇三:先進管制圖與 Pearson 非常態分析
CUSUM、EWMA、Pre-Control 與 Pearson 分佈系統完整解析。
